人亲久久精品天天中文字幕,久久综合给久久狠狠97色,国产精品综合视频,国产成人久久精品一区二区三区

歡迎來到岱美儀器技術服務(上海)有限公司網站!
岱美儀器技術服務(上海)有限公司
咨詢熱線

4008529632

當前位置:首頁  >  產品中心  >  晶圓厚度測量  >  硅片厚度測量儀  >  FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)

FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)

簡要描述:FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 產品資料:
  • 更新時間:2024-11-09
  • 訪  問  量: 887

詳細介紹

FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。


典型應用包括:厚玻璃的厚度測量(厚度可達 2 毫米,透明或霧面)晶圓厚度測量(例如直徑達 12 英寸的單面或雙面拋光晶圓)。


FR-Ultra可以很容易地與笛卡爾坐標系和極坐標結合,用于大面積的厚度測量。


3dd7c34a2b9b324984745c426372e2b.png

硅片厚度分布圖(12英寸)


特點:

o 單擊分析(無需輸入初始預估值)

o 動態(tài)測量

o 內建700種以上不同材料

o 可安裝多個離線分析軟件

o 免費軟件更新


FR-Ultra NIR N3 中文版正式.jpg



產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7