怎么樣進行半導體晶圓標識和測試？

更新時間：2023-01-13 | 點擊率：740

　　半導體晶圓（晶片）的直徑為4到10英寸（10.16到25.4厘米）的圓盤，在制造過程中可承載非本征半導體。它們是正（P）型半導體或負（N）型半導體的臨時形式。硅晶片是非常常見的半導體晶片，因為硅是蕞流行的半導體，這是由于其在地球上的大量供應。半導體晶圓是從錠上切片或切割薄盤的結(jié)果，它是根據(jù)需要被摻雜為P型或N型的棒狀晶體。然后對它們進行刻劃，以用于切割或切割單個裸片或方形子組件，這些單個裸片或正方形子組件可能僅包含一種半導體材料或多達整個電路，例如集成電路計算機處理器。

　　劃刻并切割用于生產(chǎn)電子元件（如二極管，晶體管和集成電路）的半導體晶圓，以生產(chǎn)小晶粒。這說明了為什么芯片具有類似圖案的XY形成，這些圖案由芯片承載并且實際上包含多達整個電子電路。在生產(chǎn)線的后期，這些管芯將安裝在引線框架上，準備將小的金屬線從管芯粘結(jié)到集成電路的引腳或引腳中。

　　怎么樣進行半導體晶圓標識和測試？

　　在將半導體晶圓切割成子部件之前，有機會使用自動步進測試儀來測試它所攜帶的眾多芯片，這些測試儀將測試探針順序放置在芯片上的微觀端點上，以激勵，激勵和讀取相關(guān)的測試點。這是一種實用的方法，因為有缺陷的芯片不會被封裝到蕞終的組件或集成電路中，而只會在蕞終測試時被拒絕。一旦認為模具有缺陷，墨水標記就會滲出模具，以便于視覺隔離。典型的目標是在100萬個管芯中，少于6個管芯將是有缺陷的。還需要考慮其他因素，因此可以優(yōu)化芯片恢復率。

　　質(zhì)量體系確保模具的回收率很高。晶圓邊緣上的裸片經(jīng)常會部分丟失。芯片上電路的實際生產(chǎn)需要時間和資源。為了稍微簡化這種高度復雜的生產(chǎn)方法，不對邊緣上的大多數(shù)模具進行進一步處理以節(jié)省時間和資源的總成本。

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怎么樣進行半導體晶圓標識和測試？